本站包含:国家标准.行业标准   不包含:特殊行业标准(如军工).地方标准

下载地址:


           暂无下载              
标准号:GB 3443-1982
作 废  
中文名称: 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
英文名称:
中标分类:L56 ICS分类:
标准分类编号:CN 页数:31
发布日期: 实施日期:1983-10-01 作废日期:1997-01-01
被替代标准: 调整为SJ/T 10739-1996 代替标准:
引用标准: 采用标准:IEC 147-2,NEQ
起草单位: 归口单位:
标引依据:
补充修订:
备注:
范围:
返回顶部